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更新 2026·06·17
概念 技术 / 术语

DRC LVS

DRC · LVS · Design Rule Check · Layout vs Schematic · 设计规则检查

DRC LVS CONCEPT · 概念
首次提出
1980s
关键参与方
Siemens EDA, Synopsys, 华大九天
反向引用
7 处 · 来自 6
归属 EDA物理验证金标准国产替代第二层

DRC / LVS(物理验证两大核心)

EDA 物理验证的两大核心环节,是芯片流片前的"最后一公里"质量门(据2-07)。

DRC(Design Rule Check)

设计规则检查 — 验证版图(layout)是否符合晶圆厂的工艺设计规则:

  • 最小线宽、最小间距、最小覆盖
  • 不同金属层之间的设计约束
  • 任何违反规则的图形都会被标出

LVS(Layout vs Schematic)

版图对照 — 把版图(physical layout)与电路图(schematic)逐元件、逐网表比对,确认版图与设计完全一致。

全球金标准

  • Siemens EDA Calibre — 全球晶圆厂 70%+ 市占率
  • 是所有先进工艺流片(5nm / 3nm / 2nm)的事实标准
  • 客户:台积电、Samsung、Intel、中芯国际 等几乎所有 foundry

国产攻坚

  • 华大九天 — 数字 / 模拟物理验证工具持续迭代
  • 奥卡思微 — 物理验证细分玩家
  • 物理验证是国产 EDA 最难突破的环节之一(高 PPA × 高准确度 × 高速度三角约束)

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关键来源